INSTEMS系列為用戶提供了7種原位TEM實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。其中包含三種單外場(chǎng)施加平臺(tái),三種雙外場(chǎng)耦合平臺(tái)和一種三外場(chǎng)耦合平臺(tái)。三種單外場(chǎng)產(chǎn)品為INSTEMS-M(力學(xué)加載)、INSTEMS-E(電學(xué)加載)和INSTEMS-T(熱場(chǎng)加載);三種雙外場(chǎng)耦合產(chǎn)品為INSTEMS-ME(力電耦合)、INSTEMS-TE(熱電耦合)和INSTEMS-MT(力熱耦合);一種三外場(chǎng)耦合產(chǎn)品為INSTEMS-MET(力熱電耦合)。
產(chǎn)品介紹:
INSTEMS-ME可以實(shí)現(xiàn)多種模式的電學(xué)施加和高精度的電學(xué)測(cè)量。同時(shí),可以根據(jù)不同的傾轉(zhuǎn)需求選擇不同驅(qū)動(dòng)方式。該產(chǎn)品可實(shí)現(xiàn)拉伸、壓縮、彎曲等多種力學(xué)加載模式。借助于獨(dú)創(chuàng)的力電耦合模式,INSTEMS-ME完美保存了TEM樣品桿的雙軸傾轉(zhuǎn)功能,成為市場(chǎng)上首個(gè)可實(shí)現(xiàn)原子尺度力電耦合研究的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
突出優(yōu)勢(shì):
1、力場(chǎng)施加條件下高溫加熱能力
超寬加熱范圍( RT-1200 oC )
超高加熱精度( < 0.1 oC )
可程序化加熱
四探針測(cè)量
2、優(yōu)異的電學(xué)施加和測(cè)量能力
多種通電程序
pA級(jí)電學(xué)測(cè)量
3、雙軸傾轉(zhuǎn)
α 軸傾轉(zhuǎn)最高至±25°
β 軸傾轉(zhuǎn)最高至±25°
4、穩(wěn)定的原子尺度成像
極限樣品漂移<50 pm/s
空間分辨率≤0.1 nm
技術(shù)指標(biāo):
最大驅(qū)動(dòng)力 |
100 mN |
最大驅(qū)動(dòng)位移 |
4 μm |
驅(qū)動(dòng)精度 |
< 500 pm |
最大電壓 |
± 50 V |
電流測(cè)量范圍 |
1 pA-1 A |
空間分辨率 |
≤0.1 nm |
EDS兼容性 |
√ |
應(yīng)用領(lǐng)域:
壓電材料
鐵電材料
驅(qū)動(dòng)/傳感
光電伏材料
鋰離子電池
納米器件
柔性電子器件
̷̷
創(chuàng)新點(diǎn):
擁有pA等級(jí)的高精度電場(chǎng)測(cè)量,同時(shí)能實(shí)現(xiàn)7種電場(chǎng)加載模式應(yīng)用,包括波形選擇與恒壓恒流模式等
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本文標(biāo)題:百實(shí)創(chuàng)發(fā)布透射電子顯微鏡原位-原子尺度雙傾力電耦合系統(tǒng)新品
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